破解干擾難題：

超高分辨率ICP-OES直接分離譜線干擾

硬件級高分辨率：采用棱鏡+中階梯光柵雙色散系統(tǒng)，光學(xué)分辨率高達(dá)2pm@200nm，配合高分辨CCD檢測器（2pm/pixel）。從下面列舉的部分稀土元素峰圖可見，標(biāo)準(zhǔn)溶液及實(shí)際釹鐵硼樣品的目標(biāo)峰和干擾峰能從光學(xué)層面清晰分離，從根本上減少干擾。無需建立校正模型或使用數(shù)學(xué)算法扣除背景，所測即所得。讓儀器的高性能解決分析難題，減少人工經(jīng)驗(yàn)處理，回歸儀器分析本質(zhì)。

圖 部分海關(guān)出口監(jiān)管的中重稀土元素典型峰圖

（藍(lán)色為釹鐵硼實(shí)際樣品，紅色為標(biāo)準(zhǔn)溶液，黃色為像素積分區(qū)域）

◆ 峰中心對齊功能：可自定義目標(biāo)峰，選擇基線位置，避開干擾峰；

◆ 可選像素功能：可調(diào)整積分區(qū)域，通過像素大小獲得更高靈敏度或更低背景干擾；

◆ 分析線識別功能：工作站提供了*的譜線數(shù)據(jù)庫，對未知峰可進(jìn)行初步識別，確定干擾來源；

◆ 配分量（歸一化）功能：可自定義參與配分計(jì)算的譜線，配分量軟件直出配分量結(jié)果，減少分析人員工作量和誤操作。

圖  軟件工作站直接輸出配分量（歸一化）結(jié)果

典型客戶案例：

1、某海關(guān)技術(shù)中心：

使用耶拿Plasma Quant 9100 Elite測試7個釹鐵硼GSB有證標(biāo)準(zhǔn)樣品，一次測試所有稀土元素測定結(jié)果質(zhì)控要求。

7個釹鐵硼有證標(biāo)準(zhǔn)樣品測試結(jié)果      單位：%

注：“/"表示該有證標(biāo)準(zhǔn)樣品不含該元素或未定值

2、別某稀土實(shí)驗(yàn)室：

使用統(tǒng)一的釹鐵硼廢料質(zhì)控樣進(jìn)行儀器間比對，耶拿Plasma Quant 9100 Elite與實(shí)驗(yàn)室原ICP-OES設(shè)備測試結(jié)果一致，符合標(biāo)準(zhǔn)允差范圍，獲得客戶高度認(rèn)可。

釹鐵硼廢料質(zhì)控樣 儀器間比對       單位：%

不止于儀器：

提供“前處理+上機(jī)"全流程解決方案

◆全套方法驗(yàn)證：除了聚焦儀器分析，我們從高純標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)溶解、標(biāo)準(zhǔn)曲線配制，到樣品粉碎、稱量、消解、定容，形成完整的SOP（標(biāo)準(zhǔn)操作流程）。

◆ 快速賦能客戶：憑借成熟的SOP和整體解決方案，可協(xié)助客戶在3-5天內(nèi)快速建立符合標(biāo)準(zhǔn)的釹鐵硼合金和廢料的檢測能力，縮短方法開發(fā)周期。